• 已选条件：
  • × 物理（综合）
  • × INTEGRATED CIRCUITS
 全选  【符合条件的数据共：4条】

1 Experimental Study on Mitigation of Lifetime-Limiting Dielectric Cracking in Extreme Temperature 4H-SiC JFET Integrated Circuits [科技报告]

作者:Spry, D J, Neudeck, P G, Chang, Carl W

发布日期:2019

关键词:DIELECTRICS;JFET;...

发布机构:

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览：1 下载：4  ]    

2 Experimental Study on Mitigation of Lifetime-Limiting Dielectric Cracking in Extreme Temperature 4H-SiC JFET Integrated Circuits [科技报告]

作者:Spry, David J, Neudeck, Philip G, Chang, Carl W

发布日期:2019

关键词:AEROSPACE SYSTEMS;AUTOMOBILES;...

发布机构:

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览：1 下载：2  ]    

3 Extremely high frequency RF effects on electronics. [科技报告]

作者:Loubriel, Guillermo Manuel;Vigliano, David;Coleman, Phillip Dale;等

发布日期:2012

关键词:ATTENUATION;ILLUMINANCE;...

发布机构:

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览：4 下载：3  ]    

4 Determination of late-time Gamma-Ray (60Co) sensitivity of single diffusion Lot 2N2222A transistors. [科技报告]

作者:DePriest, Kendall Russell, Kajder, Karen C., Peters, Curtis D. (American Staff Augmentation Providers, LLC, Albuquerque, NM)

发布日期:2008

关键词:DIFFUSION;INTEGRATED CIRCUITS;...

发布机构:

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览：4 下载：2  ]